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物理特性標準物質(zhì)   二氧化硅納米薄膜厚度

物理特性標準物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度

更新時(shí)間:2022-12-13

產(chǎn)品型號:GBW13971

訪(fǎng)問(wèn)次數:689

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:GBW13971 物理特性標準物質(zhì) 二氧化硅納米薄膜厚度
應用領(lǐng)域物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性
保存條件貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下
使用注意事項運輸過(guò)程中必須保持包裝的完整,使用過(guò)程中必須保持樣品表面清潔
特征形態(tài)固態(tài)
基體
主要分析方法掠入射X射線(xiàn)反射測量和橢偏測量#
定值單位中國計量科學(xué)研究院#
規格每盒1片

詳細資料:

品牌其他品牌貨號GBW13971
規格每盒1片供貨周期現貨
主要用途物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性

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經(jīng)營(yíng)范圍:國家標準物質(zhì)、國內外標準品、藥典對照品,國內外標準溶液,地質(zhì)礦產(chǎn)類(lèi)標樣,冶金標樣,標準菌種、實(shí)驗室耗材、試劑盒,化學(xué)試劑等

 

GBW13971    物理特性標準物質(zhì)   二氧化硅納米薄膜厚度

應用領(lǐng)域 物理學(xué)與物理化學(xué)/光學(xué)特性

保存條件 貯存在陰涼干燥的室溫環(huán)境條件下

使用注意事項 運輸過(guò)程中必須保持包裝的完整,使用過(guò)程中必須保持樣品表面清潔

特征形態(tài) 固態(tài)

基體

主要分析方法 掠入射X射線(xiàn)反射測量和橢偏測量# 

定值單位 中國計量科學(xué)研究院#

規格 每盒1片

 

標準值不確定度單位CAS備注
二氧化硅納米薄膜厚度50.960.85nm

 

  

 

公司簡(jiǎn)介:

武漢中昌國研標物科技有限公司—匯集各類(lèi)標準物質(zhì)數十萬(wàn)種,專(zhuān)業(yè)銷(xiāo)售各類(lèi)國家標準物質(zhì)、標準樣品、標準溶液、標準品、對照品、化學(xué)試劑、進(jìn)口試劑/標準品、標準氣體、混標定制、實(shí)驗室耗材等。 公司產(chǎn)品涉及到國內質(zhì)檢、農檢、計量、藥監、水質(zhì)、生物、醫療、衛生、環(huán)保等眾多領(lǐng)域。攜國內各大標準物質(zhì)研究院、國外進(jìn)口標準物質(zhì)研究機構,代理品牌(如:Cato、阿拉丁、TCI、Acros、Sigma、麥克靈、默克等)提供一站式標準物質(zhì)采購服務(wù)。主要服務(wù)于高校實(shí)驗室、地質(zhì)研究院、水質(zhì)國家出入境檢疫檢驗系統、食藥監督系統、各省市環(huán)境監測站、第三方檢測機構、以及科研院所等

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
標準值不確定度單位CAS備注
二氧化硅納米薄膜厚度50.960.85nm

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